Grupa Badawcza Badania Właściwości i Struktury Materiałów
Ultrawysokorozdzielczy skaningowo-transmisyjny (S/TEM) mikroskop elektronowy TITAN 80-300
Ultrawysokorozdzielczy skaningowo-transmisyjny (S/TEM) mikroskop elektronowy TITAN 80-300 jest wyposażony w:
- spektrometr dyspersji energii (EDS),
- zewnętrzny filtr energii do obrazowania EFTEM i do spektroskopii EELS,
- układ trzech detektorów BF/ADF/HAADF do skaningowego trybu pracy,
- niskopolową soczewkę Lorentza oraz uchwyt tomograficzny o szerokim polu widzenia.
Zakres energii elektronów 80 – 300 keV.
Mikroskop pozwala na prowadzenie obserwacji:
- w trybie klasycznym (TEM) z rozdzielczością punktową 0,21 nm bez korektora obrazowego i <0,1 nm z włączonym korektorem,
- oraz w trybie skanowania wiązki po powierzchni (STEM) z rozdzielczością 0,14 nm.
Zastosowanie filtra energii elektronów pozwala na uzyskiwanie filtrowanych energetycznie obrazów dyfrakcyjnych (ESD) i mikrostruktury (EFTEM) o znacznie poprawionym kontraście oraz na wykonywanie mikroanalizy chemicznej w oparciu o silnie rozwijającą się spektroskopię strat energii elektronów (EELS).
Dzięki rozdzielczości energetycznej rzędu 0,8 eV spektroskopia EELS pozwala nie tylko na analizę składu pierwiastkowego, ale również na identyfikację wiązań chemicznych występujących w nanoobszarach.
Implementacja tomografii elektronowej pozwala na uzyskiwanie trójwymiarowych obrazów mikrostruktury oraz map składu chemicznego. Mikroskopia Lorentza pozwala na obserwację domen magnetycznych w materiałach ferromagnetycznych. Ponadto, dzięki jednoczesnemu zastosowaniu soczewki Lorentza i korektora obrazowego, możliwe jest obrazowanie mikrostruktury materiałów (silnie) magnetycznych z rozdzielczością <1 nm.
Zakres oferowanych badań:
- pełny zakres badań i metod standardowej transmisyjnej mikroskopii elektronowej:
- badania jakościowe i ilościowe metali i niemetali,
- analiza cząstek, pyłów i proszków,
- pomiar wielkości i rozkładu obiektów o bardzo małych rozmiarach,
- preparatyka cienkich folii, replik, przekrojów poprzecznych;
- określanie nanostruktury i składu fazowego materiałów z rozdzielczością atomową;
- analiza składu chemicznego materiałów w mikro- i nanoobszarach:
- wyznaczanie map zawartości pierwiastków (EDS, EELS),
- identyfikacja wiązań chemicznych (EELS),
- obrazowanie z kontrastem chemicznym (EELS),
- badania warstw i granic międzyfazowych,
- badania materiałów magnetycznych z wysoką rozdzielczością,
- tomografia elektronowa.